電路設(shè)計常見問題解析和整改措施技術(shù)高級研修班

電路設(shè)計常見問題解析和整改措施技術(shù)高級研修班(武老師)課程介紹：

課程背景
    電路系統(tǒng)可靠性設(shè)計，比拼的不是誰的設(shè)計更高明，而是誰的設(shè)計更少犯錯誤，因為系統(tǒng)的故障往往是因為設(shè)計中疏忽或者不了解的錯誤隱患而導(dǎo)致的。本課程采用逆向思維方式，從設(shè)計的負(fù)面角度入手，總結(jié)剖析了設(shè)計師易犯的錯誤點，以期在設(shè)計中能提前加以預(yù)防。漏洞堵住了，跑冒滴漏自然不再發(fā)生。為了幫助廣大電子企業(yè)提高電路設(shè)計、測試水平和綜合能力，學(xué)習(xí)和借鑒國外先進(jìn)技術(shù)，特分期組織舉辦“電路設(shè)計常見問題解析和整改措施技術(shù)”高級研修班

課程內(nèi)容:講課內(nèi)容屆時會根據(jù)參加學(xué)員實際要求會有所調(diào)整，具體以講義為準(zhǔn)。

1、分析方法
1.1、工程計算和容差分析方法　1.2、環(huán)境應(yīng)力分析　 1.3、人機(jī)交互分析
1.4、關(guān)聯(lián)設(shè)備互動分析　　　　1.5、過渡過程應(yīng)力　 1.6、負(fù)載波動分析
1.7、單一故障分析　　　　　　1.8、可靠性預(yù)計分析 1.9、判據(jù)標(biāo)準(zhǔn)

2、分析要點
2.1、防護(hù)器件（保險絲、TV、壓敏電阻、氣體放電管、NTC電阻和PTC電阻）
參數(shù)計算　　　　　 器件選型　　　
電路結(jié)構(gòu)形式分析　 故障機(jī)理和失效分析判定方法
2.2、放大電路（運放電路、放大器IC）
阻抗匹配計算　　　 精度分配計算　
電路形式選型分析　 器件參數(shù)選型和容差分析計算
2.3、接口電路（光耦隔離電路、CAN總線、485總線、模擬信號傳輸接口電路、濾波）
應(yīng)力分析　　　　　 器件等效電路特性分析　
電路結(jié)構(gòu)形式分析　 器件參數(shù)選型計算
2.4、復(fù)位電路
復(fù)位工作時序分析　 復(fù)位電路特性要求　
復(fù)位電路結(jié)構(gòu)形式　 復(fù)位電路參數(shù)選型計算
2.5、MCU（振蕩電路、存儲介質(zhì)、軟件設(shè)計、MCU選型）
器件失效機(jī)理　　　 防護(hù)設(shè)計規(guī)范
2.6、數(shù)字信號處理電路（阻抗匹配、信號調(diào)理）
阻抗匹配計算　　
信號調(diào)理電路分析（走線方式、防護(hù)器件、及濾波器件對信號質(zhì)量的影響）
2.7、驅(qū)動電路（開關(guān)電路、阻性負(fù)載/感性負(fù)載/容性負(fù)載的影響）
開關(guān)類器件的控制特性（繼電器、MOSFET、IGBT）
負(fù)載類型對控制特性的要求　　
開關(guān)器件的失效機(jī)理對控制方法的要求
2.8、顯示和鍵盤
顯示處理方式　
顯示抗擾方法　
鍵盤容錯性機(jī)制和抗擾設(shè)計
2.9、線纜接插件
線纜與接插件參數(shù)分析　
線纜接插件結(jié)構(gòu)特性　
線纜接插件失效機(jī)理　　
選型計算
2.10、接地處理
接地器件的特性　
接地常見問題點
安全接地、外殼地、浮地屏蔽地、數(shù)字地、模擬地、功率地、高頻接地、防雷接地的綜合處理方法
2.11、PCB布局布線
PCB板選材　
PCB工藝　
PCB 布局　
DFT設(shè)計　
板卡熱設(shè)計
2.12、結(jié)構(gòu)和電氣結(jié)合的可靠性問題
結(jié)構(gòu)電磁兼容（噴涂工藝、連接方法、開孔和縫隙）　
腐蝕防護(hù)　　
電路板處理
結(jié)構(gòu)件表面處理工藝　
開孔接縫防護(hù)處理　　
安規(guī)　
布線　
絕緣設(shè)計　
漏電流的影響因素
結(jié)構(gòu)熱設(shè)計　
散熱形式的選擇　　
散熱器件的選型計算

講師介紹
    武曄卿  電子工程碩士。曾任航天二院總體設(shè)計所主任設(shè)計師、高級項目經(jīng)理，機(jī)電制造企業(yè)研發(fā)總監(jiān)、事業(yè)部總監(jiān)，北京市級優(yōu)秀青年工程師，科協(xié)委員。
    有電子產(chǎn)品、軍工、通信等專業(yè)方向的設(shè)計、測評和技術(shù)管理經(jīng)歷，對產(chǎn)品系統(tǒng)設(shè)計、可靠性設(shè)計、技術(shù)管理有較深入研究，曾在學(xué)術(shù)會議及多家技術(shù)刊物發(fā)表專業(yè)文章。曾為比亞迪、中電30所、29所、松下電工、北京華峰測控、北京航天長峰、普析通用儀器、航天二院、航天五院、深圳普博、伯特利閥門集團(tuán)、北控高科、南車四方股份等企業(yè)提供專業(yè)技術(shù)和技術(shù)管理輔導(dǎo)、培訓(xùn)和咨詢。曾作為核心團(tuán)隊成員經(jīng)歷一個企業(yè)由零到幾個億、研發(fā)團(tuán)隊由幾個人到近二百人的發(fā)展過程，深諳企業(yè)發(fā)展過程的產(chǎn)品可靠性問題和解決方法。
主講課程：《電路系統(tǒng)可靠性設(shè)計》、《嵌入式軟件可靠性設(shè)計》、《電子系統(tǒng)測試》、《電子電器產(chǎn)品電磁兼容分析設(shè)計》等。

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