| 【時間地點】 | |||
| 【培訓(xùn)講師】 | 費慶宇 | ||
| 【參加對象】 | 系統(tǒng)總質(zhì)量師、產(chǎn)品質(zhì)量師、設(shè)計師、工藝師、研究員，質(zhì)量可靠性管理和失效分析工程師等 | ||
| 【參加費用】 | ￥2000元/人 RMB2000元/2天/人(包括培訓(xùn)、培訓(xùn)教材、兩天午餐、以及上下午茶點等) | ||
| 【會務(wù)組織】 | 森濤培訓(xùn)網(wǎng)（dbslw.com.cn）．廣州三策企業(yè)管理咨詢有限公司 | ||
| 【咨詢電話】 | 020-34071250；020-34071978（提前報名可享受更多優(yōu)惠） | ||
| 【聯(lián) 系 人】 | 龐先生，鄧小姐；13378458028、18924110388（均可加微信） | ||
| 【在線 QQ 】 | 568499978 |  課綱下載 |
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| 【溫馨提示】 | 本課程可引進到企業(yè)內(nèi)部培訓(xùn)，歡迎來電預(yù)約！ | ||
第一部分:電子元器件失效分析技術(shù)
1．失效分析的基本概念和一般程序
2．失效分析的電測試
3．無損失效分析
4．模擬失效分析
5．制樣技術(shù)
6．形貌像技術(shù)
7．掃描電鏡電壓襯度像
8．熱點檢測技術(shù)
9．聚焦離子束技術(shù)
10. 微區(qū)化學(xué)成分分析技術(shù)
第二部分:分立半導(dǎo)體器件和集成電路的失效機理和案例
1．塑料封裝失效
2．引線鍵合失效
3．水汽和離子沾污
4．介質(zhì)失效 5．過電應(yīng)力損傷
6．閂鎖效應(yīng)
7．靜電放電損傷
8．金屬電遷移
9．金屬電化學(xué)腐蝕
10．金屬-半導(dǎo)體接觸退化
11．芯片粘結(jié)失效
第三部分:電子元件的失效機理和案例
1. 電阻器的失效機理和案例
2. 電容器的失效機理和案例
3. 繼電器的失效機理和案例
4．連接器的失效機理和案例
5．印刷電路板和印刷電路板組件
第四部分:微波半導(dǎo)體器件失效機理和案例
1.微波器件的主要失效模式及失效機理
2.微波器件典型案例綜合分析
3.微波器件的失效控制措施
4.微波器件失效分析典型案例
第五部分:混合集成電路失效機理和案例
1.混合集成電路的主要失效模式及失效機理
2.混合集成電路典型案例綜合分析
3.混合集成電路的失效控制措施
4.混合集成電路失效分析典型案例
第六部分 其它器件的失效機理和案例
1.其它器件主要失效模式及失效機理
2.其它器件典型案例綜合分析
3.其它器件失效分析典型案例
專 家 介 紹：費慶宇（高級工程師）
1982年起在中國電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境實驗研究所(現(xiàn)名:信息產(chǎn)業(yè)部電子五所)工作,現(xiàn)任高級工程師。長期從事半導(dǎo)體器件(包括集成電路和GaAs微波器件等)的失效機理和失效分析技術(shù)研究。分別于1989年、1992-1993年、2001年由聯(lián)合國、國家教委和中國國家留學(xué)基金委員會資助赴聯(lián)邦德國、加拿大和美國作訪問學(xué)者。曾在國內(nèi)外刊物和學(xué)術(shù)會議上發(fā)表論文三十余篇。曾多次應(yīng)邀外出講學(xué),曾多次主持重大課題研究,他主持的《VLSI失效分析技術(shù)》課題榮獲2003年度國防科技二等獎。
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