電子產(chǎn)品可靠性白盒測(cè)試課綱

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關(guān)鍵詞：電子產(chǎn)品,可靠性測(cè)試
課程簡(jiǎn)介：(Kenny主講)
白盒測(cè)試的核心是波形診斷、器件參數(shù)分析、器件失效機(jī)理激發(fā)等內(nèi)容，通過(guò)對(duì)具體深入細(xì)節(jié)的測(cè)試測(cè)量，與預(yù)期標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)、波形對(duì)比，發(fā)現(xiàn)其中的隱患。 本課程著重從被測(cè)對(duì)象的隱患點(diǎn)、外部應(yīng)力、過(guò)渡過(guò)程、器件失效機(jī)理、工藝隱患等幾個(gè)方面展開(kāi)測(cè)試用例設(shè)計(jì)，既講解了測(cè)試用例的思考分析方法，又深入展開(kāi)了細(xì)節(jié)的具體問(wèn)題點(diǎn)分析。...

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資料熱詞：電子產(chǎn)品培訓(xùn)，可靠性測(cè)試培訓(xùn)

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