電子元器件失效分析技術(shù)及經(jīng)典案例

●培訓(xùn)形式：案例分享、專業(yè)實(shí)戰(zhàn)、小班教學(xué)，名額有限，報(bào)滿即止！ ●課程作用:電子產(chǎn)品在不斷與失效作斗爭中提高可靠性，失效分析是與產(chǎn)品失效作斗爭的最有效的工具，通過對失效產(chǎn)品的失效分析，診斷失效產(chǎn)品的失效機(jī)理，以失效機(jī)理為引導(dǎo)，進(jìn)一步分析誘發(fā)失效機(jī)理的應(yīng)力，從而診斷引起產(chǎn)品失效的根本原因，最終，從產(chǎn)品失效的根本原因所涉及的因素（如產(chǎn)品的材料、結(jié)構(gòu)、工藝的缺陷，或產(chǎn)品使用不合理）入手，采取有針對性的措施，徹底消滅產(chǎn)品失效或有效控制產(chǎn)品失效。 ●課程概要:“電子元器件失效分析技術(shù)與經(jīng)典案例”首先介紹電子產(chǎn)品（包括各種元器件、集成電路、組件等）失效分析的程序和方法，主要的失效分析設(shè)備及其應(yīng)用技巧，以及失效分析中要注意的關(guān)鍵問題。然后，通過典型的失效分析案例展現(xiàn)產(chǎn)品的失效分析中怎樣考慮問題、怎樣采用合適的分析手段（分析儀器、設(shè)備），怎樣提取證據(jù)，怎樣識(shí)別各種失效機(jī)理，怎樣對獲得的各方面的信息、證據(jù)進(jìn)行綜合分析以達(dá)到對失效產(chǎn)品進(jìn)行準(zhǔn)確診斷的目的。 ●課程目的:   “失效分析技術(shù)”讓您系統(tǒng)了解失效的程序與方法，掌握失效分析的各種分析手段（儀器、設(shè)備）；“經(jīng)典案例”讓您掌握電子產(chǎn)品的主要失效模式和失效機(jī)理，掌握失效分析的核心：分析思路，機(jī)理的識(shí)別，分析手段（儀器、設(shè)備）的應(yīng)用技巧。 ●課程提綱： 【第一天課程內(nèi)容】第一講 電子元器件失效分析程序和方法第一節(jié) 失效分析的作用第二節(jié) 概述第三節(jié) 失效分析前期工作1.基本概念2.信息分析3.失效模式確認(rèn)4.掌握樣品失效的可能第四節(jié) “找證據(jù)”1．概述2．外觀分析3．內(nèi)部非破壞性分析   包括：電分析、應(yīng)力試驗(yàn)與電分析、X-RAY、C-SAM、XCT、PIND、氣密封裝檢漏等。4．內(nèi)部半破壞性分析  包括：開.....[查看詳細(xì)課綱]